電子情報システム学科

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  • 32 被引用数 (Scopus)
  • A review method for UML requirements analysis model employing system-side prototyping

    Ogata, S. & Matsuura, S., 2013, In: SpringerPlus. 2, 1, 134.

    研究成果: Review article査読

    2 被引用数 (Scopus)
  • HITOMI (ASTRO-H) X-ray astronomy satellite

    Takahashi, T., Kokubun, M., Mitsuda, K., Kelley, R. L., Ohashi, T., Aharonian, F., Akamatsu, H., Akimoto, F., Allen, S. W., Anabuki, N., Angelini, L., Arnaud, K., Asai, M., Audard, M., Awaki, H., Axelsson, M., Azzarello, P., Baluta, C., Bamba, A., Bando, N., & 250 othersBautz, M. W., Bialas, T., Blandford, R., Boyce, K., Brenneman, L. W., Brown, G. V., Bulbul, E., Cackett, E. M., Canavan, E., Chernyakova, M., Chiao, M. P., Coppi, P. S., Costantini, E., O' Dell, S., DiPirro, M., Done, C., Dotani, T., Doty, J., Ebisawa, K., Eckart, M. E., Enoto, T., Ezoe, Y., Fabian, A. C., Ferrigno, C., Foster, A. R., Fujimoto, R., Fukazawa, Y., Funk, S., Furuzawa, A., Galeazzi, M., Gallo, L. C., Gandhi, P., Gilmore, K., Giustini, M., Goldwurm, A., Gu, L., Guainazzi, M., Haas, D., Haba, Y., Hagino, K., Hamaguchi, K., Harrus, I. M., Hatsukade, I., Hayashi, T., Hayashi, K., Hayashida, K., Den Herder, J. W., Hiraga, J. S., Hirose, K., Hornschemeier, A., Hoshino, A., Hughes, J. P., Ichinohe, Y., Iizuka, R., Inoue, H., Inoue, Y., Ishibashi, K., Ishida, M., Ishikawa, K., Ishimura, K., Ishisaki, Y., Itoh, M., Iwai, M., Iwata, N., Iyomoto, N., Jewell, C., Kaastra, J., Kallman, T., Kamae, T., Kara, E., Kataoka, J., Katsuda, S., Katsuta, J., Kawaharada, M., Kawai, N., Kawano, T., Kawasaki, S., Khangulyan, D., Kilbourne, C. A., Kimball, M., King, A., Kitaguchi, T., Kitamoto, S., Kitayama, T., Kohmura, T., Konami, S., Kosaka, T., Koujelev, A., Koyama, K., Koyama, S., Kretschmar, P., Krimm, H. A., Kubota, A., Kunieda, H., Laurent, P., Lee, S. H., Leutenegger, M. A., Limousin, O., Loewenstein, M., Long, K. S., Lumb, D., Madejski, G., Maeda, Y., Maier, D., Makishima, K., Markevitch, M., Masters, C., Matsumoto, H., Matsushita, K., McCammon, D., Mcguinness, D., McNamara, B. R., Mehdipour, M., Miko, J., Miller, E. D., Miller, J. M., Mineshige, S., Minesugi, K., Mitsuishi, I., Miyazawa, T., Mizuno, T., Mori, H., Mori, K., Moroso, F., Moseley, H., Muench, T., Mukai, K., Murakami, H., Murakami, T., Mushotzky, R. F., Nagano, H., Nagino, R., Nakagawa, T., Nakajima, H., Nakamori, T., Nakano, T., Nakashima, S., Nakazawa, K., Namba, Y., Natsukari, C., Nishioka, Y., Nobukawa, K. K., Nobukawa, M., Noda, H., Nomachi, M., Odaka, H., Ogawa, H., Ogawa, M., Ogi, K., Ohno, M., Ohta, M., Okajima, T., Okamoto, A., Okazaki, T., Ota, N., Ozaki, M., Paerels, F., Paltani, S., Parmar, A., Petre, R., Pinto, C., De Plaa, J., Pohl, M., Pontius, J., Porter, F. S., Pottschmidt, K., Ramsey, B., Reynolds, C., Russell, H., Safi-Harb, S., Saito, S., Sakai, K., Sakai, S. I., Sameshima, H., Sasaki, T., Sato, G., Sato, K., Sato, R., Sato, Y., Sawada, M., Schartel, N., Serlemitsos, P. J., Seta, H., Shibano, Y., Shida, M., Shidatsu, M., Shimada, T., Shinozaki, K., Shirron, P., Simionescu, A., Simmons, C., Smith, R. K., Sneiderman, G., Soong, Y., Stawarz, Ł., Sugawara, Y., Sugita, S., Sugita, H., Szymkowiak, A., Tajima, H., Takahashi, H., Shin'ichiro, T., Takei, Y., Tamagawa, T., Tamura, T., Tamura, K., Tanaka, T., Tanaka, Y., Tanaka, Y. T., Tashiro, M. S., Tawara, Y., Terada, Y., Terashima, Y., Tombesi, F., Tomida, H., Tsuboi, Y., Tsujimoto, M., Tsunemi, H., Tsuru, T. G., Uchida, H., Uchiyama, H., Uchiyama, Y., Ueda, S., Ueda, Y., Ueno, S., Shin'ichiro, U., Megan Urry, C., Ursino, E., De Vries, C. P., Wada, A., Watanabe, S., Watanabe, T., Werner, N., Wik, D. R., Wilkins, D. R., Williams, B. J., Yamada, S., Yamada, T., Yamaguchi, H., Yamaoka, K., Yamasaki, N. Y., Yamauchi, M., Yamauchi, S., Yaqoob, T., Yatsu, Y., Yonetoku, D., Yoshida, A., Yuasa, T., Zhuravleva, I. & Zoghbi, A., 2018 4月 1, In: Journal of Astronomical Telescopes, Instruments, and Systems. 4, 2, 021402.

    研究成果: Review article査読

    Open Access
    65 被引用数 (Scopus)
  • Physics-based simulation of buffer-trapping effects on slow current transients and current collapse in GaN field effect transistors

    Horio, K., Yonemoto, K., Takayanagi, H. & Nakano, H., 2005, In: Journal of Applied Physics. 98, 12, 124502.

    研究成果: Review article査読

    93 被引用数 (Scopus)