Naoki Ono – 研究成果 — Shibaura Institute of Technology

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2000
Investigation on grown-in defects in CZ-Si crystal under slow pulling rate
Furukawa, J., Tanaka, H., Nakada, Y., Ono, N. & Shiraki, H., 2000 3月 1, In: Journal of Crystal Growth. 210, 1, p. 26-30 5 p.
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