40 frames/sec 16×16 temperature probe array using 90nm 1V CMOS for on-line thermal monitoring on VLSI chip

Masahiro Sasaki, Takuro Inoue, Makoto Ikeda, Kunihiro Asada

研究成果: Conference contribution

抄録

This paper presents a 16×16 temperature probe array using 90nm 1V CMOS, which shows ±1.4°C error for 40 ∼ 110°C temperature range and achieves a temperature distribution measurement at 40 frames/sec. This array is designed and developed for an operating frequency and supply voltage feedback system corresponding to temperature of each block on a VLSI chip. The continuous thermal monitoring is performed by using accurate four-transistor temperature probe circuits with an error amplifier and two PMOS current sources.

本文言語English
ホスト出版物のタイトル2007 IEEE Asian Solid-State Circuits Conference, A-SSCC
ページ264-267
ページ数4
DOI
出版ステータスPublished - 2007
外部発表はい
イベント2007 IEEE Asian Solid-State Circuits Conference, A-SSCC - Jeju, Korea, Republic of
継続期間: 2007 11 122007 11 14

出版物シリーズ

名前2007 IEEE Asian Solid-State Circuits Conference, A-SSCC

Conference

Conference2007 IEEE Asian Solid-State Circuits Conference, A-SSCC
国/地域Korea, Republic of
CityJeju
Period07/11/1207/11/14

ASJC Scopus subject areas

  • ハードウェアとアーキテクチャ
  • 電子工学および電気工学

フィンガープリント

「40 frames/sec 16×16 temperature probe array using 90nm 1V CMOS for on-line thermal monitoring on VLSI chip」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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