Advanced time-stamped total data acquisition control front-end for MeV ion beam microscopy and proton beam writing

Henri Kivistö, Mikko Rossi, Pete Jones, Rattanaporn Norarat, Nitipon Puttaraksa, Timo Sajavaara, Mikko Laitinen, Väinö Hänninen, Kimmo Ranttila, Pauli Heikkinen, Leona Gilbert, Varpu Marjomäki, Harry J. Whitlow

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抄録

Many ion-matter interactions exhibit sub-μs time dependences such as, fluorophore emission quenching and ion beam induced charge (IBIC). Conventional event-mode MeV ion microbeam data acquisition systems discard the time information. Here we describe a fast time-stamping data acquisition front-end based on the concurrent processing capabilities of a Field Programmable Gate Array (FPGA). The system is intended for MeV ion microscopy and MeV ion beam lithography. The speed of the system (>240,000 events s -1 for four analogue to digital converters (ADC)) is limited by the ADC throughput and data handling speed of the host computer.

本文言語English
ページ(範囲)9-11
ページ数3
ジャーナルMicroelectronic Engineering
102
DOI
出版ステータスPublished - 2013 2月
外部発表はい

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  • 電子材料、光学材料、および磁性材料
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フィンガープリント

「Advanced time-stamped total data acquisition control front-end for MeV ion beam microscopy and proton beam writing」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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