Analysis of backside-electrode and gate-field-plate effects on buffer-related current collapse in AlGaN/GaN high electron mobility transistors

Kazushige Horio, Hiraku Onodera, Atsushi Nakajima

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フィンガープリント

「Analysis of backside-electrode and gate-field-plate effects on buffer-related current collapse in AlGaN/GaN high electron mobility transistors」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Physics & Astronomy