Analysis of buffer-impurity and field-plate effects on breakdown characteristics in small-sized AlGaN/GaN high electron mobility transistors

Hiraku Onodera, Kazushige Horio

研究成果: Article査読

36 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Analysis of buffer-impurity and field-plate effects on breakdown characteristics in small-sized AlGaN/GaN high electron mobility transistors」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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