Analysis of drain lag and power compression in GaN MESFET

K. Horio, K. Yonemoto

研究成果: Article査読

本文言語English
ページ(範囲)567-569
ジャーナルProceedings of the 12th European Gallium Arsenide & Other Semiconductor Application Symposium (GAAS 2004), Amsterdam The Netherlands
出版ステータスPublished - 2004 10 1

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