Analysis of Kink-Related Backgating Effect in GaAs NESFET

K.Horio K.Horio, K.Usami K.Usami, Kazushige Horio

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本文言語English
ページ(範囲)277-279
ジャーナルIEEE Electron Device Lett.
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出版ステータスPublished - 1995 6月 1

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