Asimple test method forelectromigration reliability ofsolder/Cu pillar bumpsusing flat cables

Naoki Azuma, Misaki Owada, Takumi Abe, Tsutomu Nakada, Makoto Kubota, Kazuyoshi Ueno

研究成果: Conference contribution

フィンガープリント

「Asimple test method forelectromigration reliability ofsolder/Cu pillar bumpsusing flat cables」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science