Changes in effective work function of HfxRu1-x alloy gate electrode
T. Nabatame, Y. Nunoshige, M. Kadoshima, H. Takaba, K. Segawa, S. Kimura, H. Satake, H. Ota, T. Ohishi, A. Toriumi
研究成果: Article › 査読
12
被引用数
(Scopus)