Characterization of Current-Induced Degradation in Be-Doped HBT's Based in GaAs and InP

Shin Ichi Tanaka, Hidenori Shimawaki, Kensuke Kasahara, Kazuhiko Honjo

研究成果: Article査読

31 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Characterization of Current-Induced Degradation in Be-Doped HBT's Based in GaAs and InP」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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