Characterization of nano-composite M-2411/Y-123 thin films by electron backscatter diffraction and in-field critical current measurements

M. A. Bodea, J. D. Pedarnig, T. D. Withnell, H. W. Weber, D. A. Cardwell, N. Hari Babu, A. Koblischka-Veneva

研究成果: Article査読

3 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Characterization of nano-composite M-2411/Y-123 thin films by electron backscatter diffraction and in-field critical current measurements」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Physics & Astronomy