Critical current limiting structural defects in melt-textured YBa2Cu3O7-δ

R. Hedderich, Th Schuster, H. Kuhn, J. Geerk, G. Linker, M. Murakami

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抄録

Structural analyses and investigations of flux penetration of typically melt-textured YBa2Cu3O7-δ samples were performed. This allows regions of suppressed critical current density to be directly related to microstructural defects. At small-angle grain boundaries the critical current density was found to be reduced by a factor of up to 20.

本文言語English
ページ数1
ジャーナルApplied Physics Letters
DOI
出版ステータスPublished - 1995 1月 1
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  • 物理学および天文学(その他)

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「Critical current limiting structural defects in melt-textured YBa2Cu3O7-δ」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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