Crystallographic orientation analysis of magnetite thin films by means of electron backscatter diffraction (EBSD)

A. D. Koblischka-Veneva, M. R. Koblischka, F. Muecklich, S. Murphy, Y. Zhou, I. V. Shvets

研究成果: Conference contribution

フィンガープリント

「Crystallographic orientation analysis of magnetite thin films by means of electron backscatter diffraction (EBSD)」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。