本文言語 | English |
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ジャーナル | Default journal |
出版ステータス | Published - 2012 12月 1 |
Current developments of scanning confocal electron microscopy in a double aberration-corrected transmission electron microscope
P. Wang, P. Wang;A.I. Kirkl, ;P. D.Nellist;A.J.D’Alfonso;A.J.Morgan;L.J.Allen;A.Has Shimojo
研究成果: Article › 査読