Current Developments of Scanning Confocal Electron Microscopy in a Double Aberration-Corrected Transmission Electron Microscope

P. Wang, A. I. Kirkland, P. D. Nellist, A. J. D’alfonso, A. J. Morgan, L. J. Allen, A. Hashimoto, M. Takeguchi, K. Mitsuishi, Masayuki Shimojo

研究成果: Article

元の言語English
ページ(範囲)532-533
ページ数2
ジャーナルMicroscopy and Microanalysis
18
発行部数S2
DOI
出版物ステータスPublished - 2012

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