Current Developments of Scanning Confocal Electron Microscopy in a Double Aberration-Corrected Transmission Electron Microscope

P. Wang, A. I. Kirkland, P. D. Nellist, A. J. D’alfonso, A. J. Morgan, L. J. Allen, A. Hashimoto, M. Takeguchi, K. Mitsuishi, M. Shimojo

研究成果: Article査読

フィンガープリント

「Current Developments of Scanning Confocal Electron Microscopy in a Double Aberration-Corrected Transmission Electron Microscope」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。