本文言語 | English |
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ジャーナル | Default journal |
出版ステータス | Published - 2010 8月 1 |
Deconvolution method used in improving the depth resolution of three-dimensional images taken by scanning confocal electron microscopy
X. Zhang, M. Takeguchi, A. Hashimoto, K. Mitsuishi, M. Shimojo
研究成果: Article › 査読