Deep-level effects on slow current transients and current collapse in GaN MESFETs

K. Yonemoto, K. Horio

研究成果: Conference contribution

フィンガープリント 「Deep-level effects on slow current transients and current collapse in GaN MESFETs」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science