Defects and morphologies produced by keV ion bombardment of Ge and Si surfaces

D.G.Cahill D.G.Cahill, J.Kim J.Kim, K.Kyuno K.Kyuno, R.S.Averback R.S.Averback, Kentaro Kyuno

研究成果: Article査読

本文言語English
ジャーナルMaterials Research Society
出版ステータスPublished - 1999 4 1

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