本文言語 | English |
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ジャーナル | Default journal |
出版ステータス | Published - 2010 6月 1 |
Development of a double-tilt stage-scanning sample holder for scanning confocal electron microscopy of crystal samples
M. Takeguchi, A. Hashimoto, K. Mitsuishi, X. Zhang, M. Shimojo, T. Ishikawa, S. Deguchi, T. Naruse, Y. Kondo
研究成果: Article › 査読