Development of a double-tilt stage-scanning sample holder for scanning confocal electron microscopy of crystal samples

M. Takeguchi, A. Hashimoto, K. Mitsuishi, X. Zhang, M. Shimojo, T. Ishikawa, S. Deguchi, T. Naruse, Y. Kondo

研究成果: Article査読

本文言語English
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出版ステータスPublished - 2010 6 1

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