Effects of buffer leakage current on breakdown characteristics in AlGaN/GaN HEMTs with a high-k passivation layer

Hideyuki Hanawa, Yoshiki Satoh, Kazushige Horio

研究成果: Article査読

5 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Effects of buffer leakage current on breakdown characteristics in AlGaN/GaN HEMTs with a high-k passivation layer」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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