Electron holographic study of the contact resistance of connected nanowires on resistivity measurement.

M. Takeguchi, M. Shimojo, M. Tanaka, R. Che, W.Zhang W.Zhang, K. Furuya

研究成果: Article査読

6 被引用数 (Scopus)
本文言語English
ページ(範囲)1628-1631
ジャーナルSurf.Interface Anal.
38
出版ステータスPublished - 2006 1 1

引用スタイル