Electron holographic study of the effect of contact resistance of connected nanowires on resistivity measurement

M. Takeguchi, M. Shimojo, M. Tanaka, R. Che, W. Zhang, K. Furuya

研究成果: Article査読

6 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Electron holographic study of the effect of contact resistance of connected nanowires on resistivity measurement」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science

Physics & Astronomy

Chemical Compounds