Field-plate and back-electrode effects on lag and current collapse in AlGaN/GaN HEMTs

H. Onodera, A. Nakajima, K. Horio

研究成果: Article査読

本文言語English
ページ(範囲)81-82
ジャーナルProceedings of the 5th Asia-Pacific Workshop on Widegap Semiconductors (APWS 2011), Toba, Japan
出版ステータスPublished - 2011 5 23

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