GaN surface ablation by fs-pulses: atomic force microscopy studies, accumulation effects

Petr G. Eliseev, Saulius Juodkazis, Tamoya Sugahara, Hong Bo Sun, Shigeki Matsuo, Shiro Sakai, Hiroaki Misawa

研究成果: Conference article査読

7 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「GaN surface ablation by fs-pulses: atomic force microscopy studies, accumulation effects」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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