| 本文言語 | English |
|---|---|
| ページ（範囲） | 178 |
| ジャーナル | Default journal |
| 巻 | 45 |
| 出版ステータス | Published - 2010 5月 24 |
Improvement in depth resolution of scanning confocal electron microscopy
X. Zhang, M. Takeguchi, A. Hashimoto, K. Mitsuishi, M. Shimojo
研究成果: Article › 査読
X. Zhang, M. Takeguchi, A. Hashimoto, K. Mitsuishi, M. Shimojo
研究成果: Article › 査読
| 本文言語 | English |
|---|---|
| ページ（範囲） | 178 |
| ジャーナル | Default journal |
| 巻 | 45 |
| 出版ステータス | Published - 2010 5月 24 |