本文言語 | English |
---|---|
ページ(範囲) | 178 |
ジャーナル | Default journal |
巻 | 45 |
出版ステータス | Published - 2010 5月 24 |
Improvement in depth resolution of scanning confocal electron microscopy
X. Zhang, M. Takeguchi, A. Hashimoto, K. Mitsuishi, M. Shimojo
研究成果: Article › 査読
X. Zhang, M. Takeguchi, A. Hashimoto, K. Mitsuishi, M. Shimojo
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本文言語 | English |
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ページ(範囲) | 178 |
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巻 | 45 |
出版ステータス | Published - 2010 5月 24 |