Investigations of SiO2/n-GaN and Si3N4/n-GaN insulator-semiconductor interfaces with low interface state density

S. Arulkumaran, T. Egawa, H. Ishikawa, T. Jimbo, M. Umeno

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本文言語English
ページ(範囲)809-811
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73
出版ステータスPublished - 1998 8月 1

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