Label-free measurement of cell-electrode cleft gap distance with a high spatial resolution surface plasmon microscopy

Koji Toma, Hiroshi Kano, Andreas Offenhäusser

研究成果: Conference contribution

本文言語English
ホスト出版物のタイトルJSAP-OSA Joint Symposia, JSAP 2014
出版社Optical Society of America (OSA)
ISBN(電子版)9784863484436
DOI
出版ステータスPublished - 2014 9月 1
外部発表はい
イベントJSAP-OSA Joint Symposia, JSAP 2014 - Sapporo, Hokkaido, Japan
継続期間: 2014 9月 172014 9月 20

出版物シリーズ

名前JSAP-OSA Joint Symposia, JSAP 2014

Conference

ConferenceJSAP-OSA Joint Symposia, JSAP 2014
国/地域Japan
CitySapporo, Hokkaido
Period14/9/1714/9/20

ASJC Scopus subject areas

  • 電子工学および電気工学
  • 電子材料、光学材料、および磁性材料
  • 原子分子物理学および光学

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