Low dark current GaN Schottky UV photodiodes using oxidised IrNi Schottky contact

H. Jiang, T. Egawa, H. Ishikawa, Y. B. Dou, C. L. Shao, T. Jimbo

研究成果: Article査読

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抄録

Ir/Ni/Ir metallisation was employed as Schottky contacts of GaN Sohottky photodiodes. After annealing at 500°C in O2 for 1 min, the Schottky contact achieved the maximum barrier height of 1.28 eV and the minimum dark current densities of 1.8 × 10-10 A/cm2 at -5 V bias. The peak responsivity is 105 mA/ W at zero bias and increases to 150 mA/W at -15 V bias. The detectivity was estimated as 5.8 × 1015 cmHz1/2W-1 at zero bias.

本文言語English
ページ(範囲)1604-1606
ページ数3
ジャーナルElectronics Letters
39
22
DOI
出版ステータスPublished - 2003 11 22
外部発表はい

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  • 電子工学および電気工学

フィンガープリント

「Low dark current GaN Schottky UV photodiodes using oxidised IrNi Schottky contact」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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