Mechanism of decay of trapped magnetic field in HTS bulk caused by application of AC magnetic field

O. Tsukamoto, K. Yamagishi, J. Ogawa, M. Murakami, M. Tomita

研究成果: Article査読

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フィンガープリント

「Mechanism of decay of trapped magnetic field in HTS bulk caused by application of AC magnetic field」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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