Modeling and Characterization of Switching Noise and Signal Waveforms using Test Chips,

T.Sudo T.Sudo, K.Nakano K.Nakano, S.Haga S.Haga, Toshio Sudo

研究成果: Article査読

本文言語English
ページ(範囲)503-506
ジャーナルEMC Europe
出版ステータスPublished - 2002 9 15

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