Numerical analysis of current transients and power slump in GaAs and GaN FETs

K. Horio, Y. Kazami, D. Kasai, K. Yonemoto

研究成果: Article査読

本文言語English
ジャーナル2004 Asia-Pacific Microwave Conference Proceedings
出版ステータスPublished - 2004 12 1

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