Numerical analysis of pulsed I-V curves and current collapse in GaN FETs as affected by buffer trapping

H. Nakano, H. Takayanagi, K. Yonemoto, K. Horio

研究成果: Conference article査読

フィンガープリント

「Numerical analysis of pulsed I-V curves and current collapse in GaN FETs as affected by buffer trapping」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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