On-chip detection methodology for break-even time of power gated function units

Kimiyoshi Usami, Yuya Goto, Kensaku Matsunaga, Satoshi Koyama, Daisuke Ikebuchi, Hideharu Amano, Hiroshi Nakamura

研究成果: Conference contribution

16 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「On-chip detection methodology for break-even time of power gated function units」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science