Optical and Electrical Studies on Point Defects in Amorphous SiO2 Films

H. Nishikawa, E. Watanabe, D. Ito

研究成果: Article査読

本文言語English
ページ(範囲)5031-5036
ジャーナルMemoirs of Faculty of Engineering
出版ステータスPublished - 1995 1月 1

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