本文言語 | English |
---|---|
ページ(範囲) | 28p-D-1 |
ジャーナル | Default journal |
出版ステータス | Published - 1997 3月 1 |
Optical characterization of GaN/sapphire films by spectroscopic ellipsometery and the optical transmission method
G. Wang, G. Yu, H. Ishikawa, T. Egawa, J. Watanabe, T. Jimbo, M. Umeno
研究成果: Article › 査読