Optical properties of AlxGa1-xN/GaN heterostructures on sapphire by spectroscopic ellipsometry

G. Yu, H. Ishikawa, M. Umeno, T. Egawa, J. Watanabe, T. Jimbo, T. Soga

研究成果: Article査読

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本文言語English
ページ(範囲)2202-2204
ジャーナルAppl. Phys. Lett.
72
出版ステータスPublished - 1998 5月 1

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