Partial-Discharge Phenomenology in Compressed SF6 under Stochastic Conditions

M.F. Frechette, C.Hudon C.Hudon, M. Germain, R.Y.Larocque R.Y.Larocque, Satoshi Matsumoto, Tokihiro Umemura

研究成果: Article査読

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本文言語English
ページ(範囲)639-644
ジャーナルIEEE Conf. on Electr. Insul. and Diel. Phen.
出版ステータスPublished - 2000 10 15

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