Photoluminescence study of defect in ion-implanted thermal SiO2 films

H. Nishikawa, E. Watanabe, D. Ito, M. Takiyama, A.Ieki A.Ieki, Y. Ohki

研究成果: Article査読

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本文言語English
ページ(範囲)842-846
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78
出版ステータスPublished - 1995 7月 1

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