Photoluminescence study on point defects in SIMOX buried SiO2 film

K. S. Seol, A. Ieki, Y. Ohki, H. Nishikawa, M. Tachimori

研究成果: Conference article査読

フィンガープリント

「Photoluminescence study on point defects in SIMOX buried SiO<sub>2</sub> film」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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