Physics-based simulation of back-electrode effects on lag and current collapse in field-plate AlGaN/GaN HEMTs

H. Onodera, A. Nakajima, K. Horio

研究成果: Conference contribution

1 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Physics-based simulation of back-electrode effects on lag and current collapse in field-plate AlGaN/GaN HEMTs」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science