Physics-based simulation of buffer-trapping effects on slow current transients and current collapse in GaN field effect transistors

Kazushige Horio, Ken Yonemoto, Hiroki Takayanagi, Hiroyuki Nakano

研究成果: Review article査読

94 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Physics-based simulation of buffer-trapping effects on slow current transients and current collapse in GaN field effect transistors」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Physics & Astronomy