Prediction and verification of no gate orientation effects for GaAs MESFETs in (111) substrates

K.Ueno K.Ueno, H.Hida H.Hida, Y.Ogawa Y.Ogawa, Y.Tsukada Y.Tsukada, T.Nozaki T.Nozaki, Kazuyoshi Ueno

研究成果: Article査読

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本文言語English
ページ(範囲)846-849
ジャーナル1988 IEDM Technical Digest
出版ステータスPublished - 1988 12 1

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