Scanning confocal electron microscopy (SCEM)

P. Wang, G. Behan, A. Hashimoto, M. Takeguchi, K. Mitsuishi, M. Shimojo, L. Jones, A. I. Kirkl, P. D. Nellist

研究成果: Article査読

本文言語English
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出版ステータスPublished - 2010 6 1

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