| 本文言語 | English |
|---|---|
| ジャーナル | Default journal |
| 出版ステータス | Published - 2010 6月 1 |
Scanning confocal electron microscopy (SCEM)
P. Wang, G. Behan, A. Hashimoto, M. Takeguchi, K. Mitsuishi, M. Shimojo, L. Jones, A. I. Kirkl, P. D. Nellist
研究成果: Article › 査読
P. Wang, G. Behan, A. Hashimoto, M. Takeguchi, K. Mitsuishi, M. Shimojo, L. Jones, A. I. Kirkl, P. D. Nellist
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| 本文言語 | English |
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| ジャーナル | Default journal |
| 出版ステータス | Published - 2010 6月 1 |