| 本文言語 | English |
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| ジャーナル | Default journal |
| 出版ステータス | Published - 2012 12月 1 |
Scanning confocal electron microscopy (SCEM) combined with deconvolution technique
M. Takeguchi, M. Takeguchi;X.Zhang;A.Hashimoto;K.Mitsuishi;M.Shimoj Kirkl, Masayuki Shimojo
研究成果: Article › 査読