Scanning Confocal Electron Microscopy (SCEM) Combined with Deconvolution Technique

M. Takeguchi, X. Zhang, A. Hashimoto, K. Mitsuishi, M. Shimojo, P. Wang, N. D. Peter, A. I. Kirkland

研究成果: Article査読

本文言語English
ページ(範囲)332-333
ページ数2
ジャーナルMicroscopy and Microanalysis
18
DOI
出版ステータスPublished - 2012 7

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  • 器械工学

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