Scanning confocal electron microscopy using a double aberration-corrected transmission electron microscope

P. Wang, G. Behan, A. I. Kirkl, P. D. Nellist, E. C. Cosgriff, A. J. D'Alfonso, A. J. Morgan, L. J. Allen, A. Hashimoto, M. Takeguchi, K. Mitsuishi, M. Shimojo

研究成果: Article

14 引用 (Scopus)
元の言語English
ジャーナルDefault journal
出版物ステータスPublished - 2011 9 1

これを引用

Wang, P., Behan, G., Kirkl, A. I., Nellist, P. D., Cosgriff, E. C., D'Alfonso, A. J., Morgan, A. J., Allen, L. J., Hashimoto, A., Takeguchi, M., Mitsuishi, K., & Shimojo, M. (2011). Scanning confocal electron microscopy using a double aberration-corrected transmission electron microscope. Default journal.