Scanning confocal electron microscopy using a double aberration-corrected transmission electron microscope

P. Wang, G. Behan, A. I. Kirkl, P. D. Nellist, E. C. Cosgriff, A. J. D'Alfonso, A. J. Morgan, L. J. Allen, A. Hashimoto, M. Takeguchi, K. Mitsuishi, M. Shimojo

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本文言語English
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出版ステータスPublished - 2011 9 1

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