Simulation of lag phenomena and pulsed I-V curves of compound semiconductor FETs as affected by impact ionization

Y. Kazami, D. Kasai, Y. Mitani, K. Horio

研究成果: Article査読

本文言語English
ページ(範囲)203-206
ジャーナルJournal of Computational Electronics
Vol.2
出版ステータスPublished - 2003 12 1

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