Simulation of slow current transients and current collapse in GaN FETs

H. Takayanagi, H. Nakano, K. Yonemoto, K. Horio

研究成果: Article査読

本文言語English
ページ(範囲)223-227
ジャーナルJ. Comp. Electron
Vol.5
出版ステータスPublished - 2006 6 1

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